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Characterization of Edge Contact Atomically Resolved Semiconductor-Metal Lateral Boundary in MoS2

von Kwon, Hyeokshin
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2017)

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2

Extremely Low Contact Resistance on Graphene through n-Type Doping and Edge Contact Design

von Park, Hyung-Youl
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2016)

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