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2
atomic force microscope
AFM
1
Laue microdiffraction
1
Pasteuria penetrans
1
Research Support, Non-U.S. Gov't
1
cuticle
1
plus ...
endospore
1
in situ mechanical test
1
morphology
1
nanowire
1
nematode
1
scanning probe microscopy
1
ultrastructure
1
moins ...
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1
KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples application to in situ mechanically loaded nanowires
par
Leclere, C
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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2
Atomic force microscopy of plant-parasitic nematodes
par
Ciancio, A
Publié dans:
Journal of nematology
(1995)
Article
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