Treffer 1 - 1 von 1 für Suche '' Weiter zum Inhalt
VuFind
  • Merkliste (Voll)
  • Hilfe
  • de
  • fr
Erweitert
Ähnliche Schlagwörter: total reflection X-ray fluorescence
Bestand: DHI Paris
Filter anzeigen (2)
Ähnliche Schlagwörter: total reflection X-ray fluorescence
Bestand: DHI Paris
  • Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche. Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Cu nanoparticle 1 Journal Article 1 Research Support, Non-U.S. Gov't 1 Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S. 1 grazing-incidence X-ray fluorescence 1 silicon wafer surface 1 total reflection X-ray fluorescence mehr ... weniger ...
Treffer 1 - 1 von 1 für Suche '', Suchdauer: 1,41s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Determination of copper nanoparticle size distributions with total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
    Determination of copper nanoparticle size distributions with total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
    von Singh, Andy
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2017)

    Online-Aufsatz
    Auf die Merkliste Aus der Merkliste entfernen
Suchwerkzeuge: RSS-Feed abonnieren — Diese Suche als E-Mail versenden

Suche einschränken

Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Deutsches Historisches Institut Paris
Hôtel Duret-de-Chevry
8 rue du Parc-Royal
75003 Paris
Tel.
+33 1 44542380
Fax
+33 1 42715643
E-Mail
info@dhi-paris.fr

Das DHIP ist Teil der

Folgen Sie uns!

  • twitter
  • facebook
  • youtube
  • rss
  • email
  • Bibliothek
  • OPAC
  • Impressum
  • Datenschutz
© 2021 DHIP IHA
Wird geladen...