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Suggestion de sujets: silicon wafer surface
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Cu nanoparticle 1 Journal Article 1 Research Support, Non-U.S. Gov't 1 Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S. 1 grazing-incidence X-ray fluorescence 1 silicon wafer surface total reflection X-ray fluorescence 1 plus ... moins ...
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    Determination of copper nanoparticle size distributions with total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
    Determination of copper nanoparticle size distributions with total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
    par Singh, Andy
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2017)

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