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    Recent Progress in Simple and Cost-Effective Top-Down Lithography for ≈10 nm Scale Nanopatterns From Edge Lithography to Secondary Sputtering Lithography
    Recent Progress in Simple and Cost-Effective Top-Down Lithography for ≈10 nm Scale Nanopatterns From Edge Lithography to Secondary Sputtering Lithography
    von Jung, Woo-Bin
    Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2020)

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