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Journal Article 2 edge contact contact resistance 1 doping 1 graphene 1 optoelectronic devices 1 scanning tunneling microscopy (STM) 1 plus ... semiconductor-metal boundary 1 transition-metal dichalcogenides 1 moins ...
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  1. 1
    Characterization of Edge Contact Atomically Resolved Semiconductor-Metal Lateral Boundary in MoS2
    Characterization of Edge Contact Atomically Resolved Semiconductor-Metal Lateral Boundary in MoS2
    par Kwon, Hyeokshin
    Publié dans: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2017)

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  2. 2
    Extremely Low Contact Resistance on Graphene through n-Type Doping and Edge Contact Design
    Extremely Low Contact Resistance on Graphene through n-Type Doping and Edge Contact Design
    par Park, Hyung-Youl
    Publié dans: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2016)

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