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Characterization and Quantification of Depletion and Accumulation Layers in Solid-State Li+ -Conducting Electrolytes Using In Situ Spectroscopic Ellipsometry

von Katzenmeier, Leon
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2021)

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Mapping of trap densities and hotspots in pentacene thin-film transistors by frequency-resolved scanning photoresponse microscopy

von Westermeier, Christian
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2013)

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