Spectroscopic and Interferometric Sum-Frequency Imaging of Strongly Coupled Phonon Polaritons in SiC Metasurfaces

© 2024 The Author(s). Advanced Materials published by Wiley‐VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 33 vom: 03. Aug., Seite e2312507
1. Verfasser: Niemann, Richarda (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Mueller, Niclas S, Wasserroth, Sören, Lu, Guanyu, Wolf, Martin, Caldwell, Joshua D, Paarmann, Alexander
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article metasurface microscopy nonlinear phonon polariton polariton interferometry strong coupling sum‐frequency generation