Enhancing Stability and Performance in Tin-Based Perovskite Field-Effect Transistors Through Hydrogen Bond Suppression of Organic Cation Migration

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 23 vom: 05. Juni, Seite e2313461
1. Verfasser: Yang, Wenshu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Zhang, Kai, Yuan, Wei, Zhang, Lijun, Qin, Chuanjiang, Wang, Haibo
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article field‐effect transistors hole mobility ion migration operational stability tin‐based perovskite