Refinement of X-ray and electron diffraction crystal structures using analytical Fourier transforms of Slater-type atomic wavefunctions in Olex2
© Florian Kleemiss et al. 2024.
| Publié dans: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 1 vom: 01. Feb., Seite 161-174 |
|---|---|
| Auteur principal: | |
| Autres auteurs: | , |
| Format: | Article en ligne |
| Langue: | English |
| Publié: |
2024
|
| Accès à la collection: | Journal of applied crystallography |
| Sujets: | Journal Article X-ray diffraction electron diffraction refinement |
| Accès en ligne |
Volltext |