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Détails bibliographiques
| Publié dans: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 42 vom: 03. Okt., Seite e2204845
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| Auteur principal: |
Chen, Jun
(Auteur) |
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| Autres auteurs: |
Chen, Hongyi,
Zhang, Shu,
Dai, Alvin,
Li, Tianyi,
Mei, Yu,
Ni, Lianshan,
Gao, Xu,
Deng, Wentao,
Yu, Lei,
Zou, Guoqiang,
Hou, Hongshuai,
Dahbi, Mouad,
Xu, Wenqian,
Wen, Jianguo,
Alami, Jones,
Liu, Tongchao,
Amine, Khalil,
Ji, Xiaobo |
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| Format: | Article en ligne
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| Langue: | English |
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| Publié: |
2022
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| Accès à la collection: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Sujets: | Journal Article
electrochemical performance
high-voltage LiCoO2
stability of structure/interface
structure/interface coupling effect |
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