Near-Field Characterization of Higher-Order Topological Photonic States at Optical Frequencies

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 33(2021), 18 vom: 15. Mai, Seite e2004376
Auteur principal: Vakulenko, Anton (Auteur)
Autres auteurs: Kiriushechkina, Svetlana, Wang, Mingsong, Li, Mengyao, Zhirihin, Dmitry, Ni, Xiang, Guddala, Sriram, Korobkin, Dmitry, Alù, Andrea, Khanikaev, Alexander B
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2021
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article metasurfaces near-field spectroscopy topological photonics