X-ray characterization of physical-vapor-transport-grown bulk AlN single crystals

© Thomas Wicht et al. 2020.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1080-1086
Auteur principal: Wicht, Thomas (Auteur)
Autres auteurs: Müller, Stephan, Weingärtner, Roland, Epelbaum, Boris, Besendörfer, Sven, Bläß, Ulrich, Weisser, Matthias, Unruh, Tobias, Meissner, Elke
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2020
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article X-ray diffraction X-ray topography aluminium nitride dislocations