Ultrasensitive SERS Detection by Defect Engineering on Single Cu2 O Superstructure Particle

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 29(2017), 5 vom: 28. Feb.
Auteur principal: Lin, Jie (Auteur)
Autres auteurs: Shang, Yang, Li, Xiaoxia, Yu, Jian, Wang, Xiaotian, Guo, Lin
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2017
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article charge-transfer defects electrostatic adsorption self-assembly single-particle SERS