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    Ray-trace calculations for in situ X-ray beam imaging
    von Kyele, Nicholas R
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2007)
    Weitere Verfasser: “...van Silfhout, Roelof G...”
    Aufsatz

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    A transparent two-dimensional in situ beam-position and profile monitor for synchrotron X-ray beamlines
    von Kyele, Nicholas R
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2005)
    Weitere Verfasser: “...van Silfhout, Roelof G...”
    Aufsatz

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