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  1. 1
    Performance of a four-element Si drift detector for X-ray absorption fine-structure spectroscopy resolution, maximum count rate, and dead-time correction with incorporation into the ATHENA data analysis software
    von Woicik, J C
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2010)

    Online-Aufsatz

  2. 2
    Bond lengths in semiconductor alloys
    von Woicik, J C
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1999)
    Aufsatz

  3. 3
    Layer perfection in ultrathin MOVPE-grown InAs layers buried in GaAs(001) studied by X-ray standing waves and photoluminescence spectroscopy
    von Gupta, J A
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1999)
    Weitere Verfasser: “...Woicik, J C...”
    Aufsatz

  4. 4
    Reliability of structural parameters determined from DAFS data using the iterative dispersion integral algorithm
    von Cross, J O
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1999)
    Weitere Verfasser: “...Woicik, J C...”
    Aufsatz

  5. 5
    Direct measurement of valence charge asymmetry in GaAs using X-ray standing waves
    von Nelson, E
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1999)
    Weitere Verfasser: “...Woicik, J...”
    Aufsatz

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