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1
Signature of dislocations and stacking faults of face-centred cubic nanocrystals in coherent X-ray diffraction patterns a numerical study
von
Dupraz, Maxime
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2015)
Weitere Verfasser:
“
...
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,
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2
Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies
von
Ren, Zhe
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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“
...
Verdier
,
Marc
...
”
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3
Le temporel de la commanderie de Beauvais (près de Nemours en Seine-et-Marne)
von
Verdier
,
Marc
Veröffentlicht in:
Paris et Ile-de-France
(1997)
Standort und Signatur:
DHIP
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Le temporel de la commanderie de Beauvais (près de Nemours en Seine-et-Marne)
von
Verdier
,
Marc
Veröffentlicht in:
Paris et Ile-de-France
(1997)
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Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't
coherent X-ray diffraction
dislocations
face-centred cubic nanocrystals
in situ atomic force microscopy
mechanical properties
nanofocused X-ray diffraction
nanostructure
stacking faults
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