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Beamline commissioning for microscopic measurements with ultraviolet and soft X-ray beam at the upgraded beamline BL-13B of the Photon Factory
von
Ozawa, Kenichi
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2022)
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,
Akio
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Photoelectron shield for the first mirror of a soft X-ray beamline
von
Wakabayashi, Daisuke
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2021)
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“
...
Toyoshima
,
Akio
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”
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3
In situ removal of carbon contamination from a chromium-coated mirror ideal optics to suppress higher-order harmonics in the carbon K-edge region
von
Toyoshima
,
Akio
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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4
In situ removal of carbon contamination from optics in a vacuum ultraviolet and soft X-ray undulator beamline using oxygen activated by zeroth-order synchrotron radiation
von
Toyoshima
,
Akio
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2012)
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Ähnliche Schlagworte
Journal Article
VUV-SX beamline
X-ray absorption spectroscopy
X-ray photoelectron spectroscopy
angle-resolved photoelectron spectroscopy
carbon K-edge
carbon contamination
chromium-coated optics
first-mirror chamber
heat load
higher-order harmonics
in situ carbon removal
microscopic measurement
photoelectron shield
soft X-ray beamline
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