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  1. 1
    Beamline commissioning for microscopic measurements with ultraviolet and soft X-ray beam at the upgraded beamline BL-13B of the Photon Factory
    Beamline commissioning for microscopic measurements with ultraviolet and soft X-ray beam at the upgraded beamline BL-13B of the Photon Factory
    von Ozawa, Kenichi
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2022)
    Weitere Verfasser: “...Toyoshima, Akio...”

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  2. 2
    Photoelectron shield for the first mirror of a soft X-ray beamline
    Photoelectron shield for the first mirror of a soft X-ray beamline
    von Wakabayashi, Daisuke
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2021)
    Weitere Verfasser: “...Toyoshima, Akio...”

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  3. 3
    In situ removal of carbon contamination from a chromium-coated mirror ideal optics to suppress higher-order harmonics in the carbon K-edge region
    In situ removal of carbon contamination from a chromium-coated mirror ideal optics to suppress higher-order harmonics in the carbon K-edge region
    von Toyoshima, Akio
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2015)

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  4. 4
    In situ removal of carbon contamination from optics in a vacuum ultraviolet and soft X-ray undulator beamline using oxygen activated by zeroth-order synchrotron radiation
    In situ removal of carbon contamination from optics in a vacuum ultraviolet and soft X-ray undulator beamline using oxygen activated by zeroth-order synchrotron radiation
    von Toyoshima, Akio
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2012)

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Journal Article VUV-SX beamline X-ray absorption spectroscopy X-ray photoelectron spectroscopy angle-resolved photoelectron spectroscopy carbon K-edge carbon contamination chromium-coated optics first-mirror chamber heat load higher-order harmonics in situ carbon removal microscopic measurement photoelectron shield soft X-ray beamline
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