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ProLEED Studio software for modeling low-energy electron diffraction patterns
par
Procházka
,
Pavel
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2024)
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2
Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS
par
Průša, Stanislav
Publié dans:
Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
(2015)
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