Résultat(s) 1 - 7 résultats de 7 pour la requête 'Lutterotti, Luca', Temps de recherche: 1,07s Affiner les résultats
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    Electron diffraction characterization of nanocrystalline materials using a Rietveld-based approach. Part I. Methodology
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    Raman Open Database first interconnected Raman-X-ray diffraction open-access resource for material identification
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