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Leventhal, Samuel
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Exploring Classification of Topological Priors With Machine Learning for Feature Extraction
par
Leventhal
,
Samuel
Publié dans:
IEEE transactions on visualization and computer graphics
(2024)
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2
High-throughput feature extraction for measuring attributes of deforming open-cell foams
par
Petruzza, Steve
Publié dans:
IEEE transactions on visualization and computer graphics
(2020)
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