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1
Characterization of the X-ray coherence properties of an undulator beamline at the Advanced Photon Source
von
Ju, Guangxu
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
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Full-field X-ray reflection microscopy of epitaxial thin-films
von
Laanait, Nouamane
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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