Résultat(s) 1 - 3 résultats de 3 pour la requête 'Cohan, Jean-Pierre', Temps de recherche: 2,26s Affiner les résultats
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    The extreme 2016 wheat yield failure in France
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  2. 2
    Marker-based crop model-assisted ideotype design to improve avoidance of abiotic stress in bread wheat
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  3. 3
    Corrigendum to Marker-based crop model assisted ideotype design to improve avoidance of abiotic stress in bread wheat
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