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1
A dynamic model of the jump-to phenomenon during AFM analysis
von
Bowen, James
Veröffentlicht in:
Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
(2012)
Weitere Verfasser:
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,
David
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2
Application of colloid probe atomic force microscopy to the adhesion of thin films of viscous and viscoelastic silicone fluids
von
Bowen, James
Veröffentlicht in:
Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
(2011)
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David
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