Résultat(s) 1 - 7 résultats de 7 pour la requête 'Boesecke, Peter', Temps de recherche: 1,46s Affiner les résultats
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    Performance of the time-resolved ultra-small-angle X-ray scattering beamline with the Extremely Brilliant Source
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    The Nanodiffraction beamline ID01/ESRF a microscope for imaging strain and structure
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    Internal Structure of Nanometer-Sized Droplets Prepared by Antisolvent Precipitation
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  4. 4
    Development of a crystal collimation system for high-resolution ultra-small-angle X-ray scattering applications
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    A multipurpose instrument for time-resolved ultra-small-angle and coherent X-ray scattering
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    Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies
    par Ren, Zhe
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2014)
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    A first low-resolution difference Fourier map of phosphorus in a membrane protein from near-edge anomalous diffraction

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