Résultat(s) 1 - 3 résultats de 3 pour la requête 'Blanc, N', Temps de recherche: 0,10s Affiner les résultats
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    New tools for calibrating diffraction setups
    par Kieffer, J
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2020)
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    The In situ growth of Nanostructures on Surfaces (INS) endstation of the ESRF BM32 beamline a combined UHV-CVD and MBE reactor for in situ X-ray scattering investigations of growing nanoparticles and semiconductor nanowires
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