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    Trace-element XAFS sensitivity a stress test for a new XRF multi-detector
    von Carlomagno, Ilaria
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2021)
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  2. 2
    Fast beam monitor diamond-based devices for VUV and X-ray synchrotron radiation applications
    von Di Fraia, Michele
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
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  3. 3
    An IAEA multi-technique X-ray spectrometry endstation at Elettra Sincrotrone Trieste benchmarking results and interdisciplinary applications
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